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正电子素寿命之谜的解决

高能物理 - 实验 2010-02-25 v1 原子物理

摘要

使用直接 2γ2\gamma 校正方法测量了在 SiO2{\rm SiO_2} 粉末中形成的正电子素的固有衰变率,从而精确确定了拾取湮没率的时间依赖性。测得正电子素的衰变率为 7.0396±0.0012(stat.)±0.0011(sys.)μs17.0396\pm0.0012 (stat.)\pm0.0011 (sys.)\mu s^{-1},与我们先前的测量结果一致,且精度提高了约一倍。结果与 O(α2)O(\alpha^2) QED 预测符合良好,同时也与近期使用纳米多孔薄膜报告的结果一致。

关键词

引用

@article{arxiv.hep-ex/0308031,
  title  = {Solution of Orthopositronium lifetime Puzzle},
  author = {S. Asai and O. Jinnouchi and T. Kobayashi},
  journal= {arXiv preprint arXiv:hep-ex/0308031},
  year   = {2010}
}