结合微定位技术的软 X 射线角分辨光电子能谱研究金属 V$_2$O$_3$
强关联电子
2015-03-30 v2
摘要
我们对金属 VO 进行了软 X 射线角分辨光电子能谱实验。通过将微聚焦光束（40 x 65 m）和微定位技术与长工作距离显微镜相结合，我们成功观测到了来自典型尺寸为几十 m 的微小解理面的能带色散。光电子能谱显示出清晰的Position 依赖性，反映了解理样品表面的形貌。通过选择样品表面上高质量的平坦区域，我们利用光子能量和极角依赖性成功实现了能带映射，为典型的三维关联材料（此类材料通常难以获得大的解理面）开启了三维 ARPES 研究的大门。
引用
@article{arxiv.1503.07779,
title = {Soft X-ray Angle Resolved Photoemission with Micro Positioning Techniques for Metallic V$_2$O$_3$},
author = {H. Fujiwara and T. Kiss and Y. K. Wakabayashi and Y. Nishitani and T. Mori and Y. Nakata and S. Kitayama and K. Fukushima and S. Ikeda and H. Fuchimoto and Y. Minowa and S. -K. Mo and J. D. Denlinger and J. W. Allen and P. Metcalf and M. Imai and K. Yoshimura and S. Suga and T. Muro and A. Sekiyama},
journal= {arXiv preprint arXiv:1503.07779},
year = {2015}
}
备注
5 pages, 4 figures, to be published in Journal of Synchrotron Radiation