扭曲-弯曲向列相液晶的类层状流变学及伪层压缩弹性常数

在扭曲-弯曲向列相(N\textsubscript{TB})液晶(LC)中，平均分子取向呈现具有纳米尺度周期性的螺旋锥结构。在中观尺度上，N\textsubscript{TB} 类似于层状系统(如近晶相)，其中螺旋螺距等价于无真实质量密度波的“伪层”。我们研究了 N\textsubscript{TB} 相的流变性质，并将结果与普通 SmA 相进行比较。通过分析剪切响应并采用缺陷介导层状系统流变学的简化物理模型，我们从动态模量 $G^{*}(\omega)$ 的测量中得到了 N\textsubscript{TB} 相的伪层压缩弹性常数 $B_{eff}$。我们发现 N\textsubscript{TB} 相的 $B_{eff}$ 在 $10^{3}-10^{6}$ Pa 范围内，并遵循温度依赖关系 $B_{eff}\sim (T_{TB}-T)^{2}$，正如近期粗粒化弹性理论所预言。我们的结果表明，尽管 $B_{eff}$ 的温度依赖比粗粒化模型预言的近晶相液晶快得多，N\textsubscript{TB} 的结构流变学与普通近晶相 LC 极为相似。