HII区的狭缝观测与经验计算
天体物理学
2009-11-13 v1
摘要
在分析HII区时，经验推导物理量的一个潜在系统误差来源是用于观测的狭缝尺寸有限。通过Aangaba代码构建了一组光致电离模型网格，改变了星团发出的电离辐射谱以及气体丰度。然后利用计算出的谱线表面亮度模拟狭缝观测，并使用文献中描述的常用方法推导经验参数。根据狭缝覆盖目标的比例，这些参数可能与对整个目标观测得到的参数不同，这种效应主要取决于电离星团的年龄。低电离禁线对狭缝覆盖区域的大小比高电离禁线或复合线更敏感。关于温度指示因子T[OIII]，由于该温度由[OIII]谱线推导，狭缝效应很小。另一方面，对于也依赖于[OII]谱线的丰度指示因子R23，狭缝效应略高。因此，狭缝观测对O丰度的系统误差较低，通常小于10%，除非HII区由电离光子数在13.6至54.4 eV之间相对较少的星团提供能量，这会产生较小的O++发射体积。在这种情况下，当覆盖面积小于50%时，从狭缝观测推导的经验O丰度的系统误差超过10%。
引用
@article{arxiv.astro-ph/0509345,
title = {Slit Observations and Empirical Calculations for HII Regions},
author = {I. F. Fernandes and R. Gruenwald and S. M. Viegas},
journal= {arXiv preprint arXiv:astro-ph/0509345},
year = {2009}
}
备注
To be published in MNRAS, accepted in 09/09/2005, 17 pages and 6 figures