锗中空穴自旋的单次读出
介观与纳米尺度物理
2018-12-05 v4
摘要
空穴的强原子级自旋轨道耦合使得单次自旋读出测量十分困难，因为它缩短了自旋寿命。通过将电荷传感器集成到高带宽射频反射测量装置中，我们实现了锗量子点空穴自旋的单次读出并测量了自旋寿命。报道了在 500\,mT 下约 90 s 的空穴自旋弛豫时间。通过分别分析自旋-电荷转换与电荷读出保真度，获得了限制空穴自旋可见度的物理过程的认识。分析表明，在现实实验条件下实现非常高的空穴可见度是可行的，这凸显了空穴自旋在实现可行量子比特器件方面的潜力。
引用
@article{arxiv.1803.01775,
title = {Single-shot readout of hole spins in Ge},
author = {Lada Vukušić and Josip Kukučka and Hannes Watzinger and Joshua M. Milem and Friedrich Schäffler and Georgios Katsaros},
journal= {arXiv preprint arXiv:1803.01775},
year = {2018}
}