单次电子束脉冲横向轮廓监测仪
仪器与探测器
2024-11-26 v1 应用物理
摘要
我们实验地展示了一种基于低密度脉冲气气 jet 电子束离子化的单次、非破坏性电子束诊断方法。实验中，来自射频( RF)光电注入器的 7 MeV 电子脉冲束，携带最高可达 100 pC 的电荷，穿过局部分布的氮气 (N)。电子脉冲束与 N 气的相互作用产生了相关的离子化粒子分布信号，该信号经由一系列静电透镜放大后，以微通道板探测器记录。研究了包括点到点成像和速度映射等 various 模式。探测器电流的时间轨迹使我们能够识别单次和双次离子化事件。描述了离子化分布特征、随气体密度、总脉冲电荷及其他参数的依赖性。此外，本仪器还适用于对离子化过程本身进行综合性研究。
引用
@article{arxiv.2411.15460,
title = {Single-Shot Ionization-Based Transverse Profile Monitor for Pulsed Electron Beams},
author = {Paul Denham and Alex Ody and Pietro Musumeci and Nathan Burger and Nathan Cook and Gerard Andonian},
journal= {arXiv preprint arXiv:2411.15460},
year = {2024}
}
备注
Phys. Rev. Applied - Accepted 7 November, 2024