评估脉冲离子束诱导的电子发射：一种飞行时间方法

我们提出一种通过其飞行时间测量离子撞击所发射电子动能的方法。速度在 0.4 至 3.5 a.u. 之间的 H$^{+}$、D$_2^{+}$、He$^{+}$ 与 Ne$^{+}$ 离子脉冲束穿过自支撑的薄碳箔与金箔。透射离子与二次电子由样品后的位置灵敏探测器探测，并分别通过其飞行时间确定能量。在采集软件中可应用符合判据。测得的电子能量介于 10 与 400 eV 之间。在离子速度高于 1 a.u. 时，最概然电子能量随离子速度标度，指向动力学发射机制。在较低离子速度下，电子能量保持恒定且高于离子与电子经典二体碰撞中可能的能量转移最大值。讨论了用飞行时间方法测量电子能量与产额的应用潜力与技术挑战。