薄聚合物薄膜中的单链结构：对弗洛里假设和西伯尔berg假设的修正

通过蒙特卡罗模拟键动力学模型，研究了夹在两个硬无结构壁之间受限聚合物熔体的构象性质。计算并比较了链的平行和垂直方向上的延伸、键-键关联函数和结构因子，并与试图超越弗洛里假设和西伯尔berg假设的最新理论方法进行比较。我们证明，在薄膜厚度 H 小于排斥体积筛选长度（即 blob 大小）时，即 ξ 时，链的平行尺寸呈对数发散，$R^2/2N \approx b^2 + c \log(N)$，其中 $c \sim 1/H$。对应的键-键关联函数按幂律衰减，$C(s) = d/s^{\omega}$，其中 s 为键之间的曲线距离，$\omega=1$。% 在增加薄膜厚度 H 时，我们发现——与弗洛里假设相反——bulk 指数 $\omega=3/2$，而且更重要的是，$d(H)$ 呈下降趋势，这直接证明了链段在墙面反射处的自互动被增强。对于单链形因子平行于壁面的 Kratky 平台存在系统性偏离，符合理论中预测的非单调行为。这种 Kratky 平台中的这种结构可能导致从散射实验中错误估计链的延伸。对于较大的 H，偏离是随波矢 q 线性的，但非常微弱。相比之下，在 ultrathin 薄膜中，$H<\xi$，发现非常强的修正（尽管对 $q$ 为对数形式），这可能提示可通过实验验证我们的结果。