扫描透射电子显微镜中的单原子操控与控制
材料科学
2018-08-06 v1
摘要
我们证明，扫描透射电子显微镜（STEM）的亚原子级聚焦电子束可用于可控地操纵二维石墨烯晶格中的单个掺杂原子。我们展示了利用电子束对吸附源材料和石墨烯晶格进行操控，从而能够通过硅替位原子可控地钝化单个空位缺陷。我们进一步证明，这些硅缺陷可以通过电子束控制被引导穿过晶格，或（目前尚不可控地）被修饰以形成新的缺陷，从而将新原子引入石墨烯晶格。这些研究展示了STEM在原子逐个纳米制造以及二维材料中化学反应原子级基础研究方面的潜力。
引用
@article{arxiv.1708.01523,
title = {Single atom manipulation and control in a scanning transmission electron microscope},
author = {Ondrej Dyck and Songkil Kim and Sergei V. Kalinin and Stephen Jesse},
journal= {arXiv preprint arXiv:1708.01523},
year = {2018}
}