利用传播自旋波同时测量交换参数与饱和磁化强度
材料科学
2022-04-06 v1
摘要
铁磁超薄膜中的交换相互作用是基于磁化的存储与逻辑器件中的关键参数，然而对其精确测量仍具挑战。尽管目前有多种方法用于确定交换参数，但各自存在局限，且它们之间尚未取得良好一致。迄今，中子散射、磁强计、布里渊光散射、自旋转矩铁磁共振谱和 Kerr 显微镜都已被用于确定交换参数。在此我们提出一种新方法，利用布里渊光散射的波矢选择性来测量反向体积和 Damon-Eshbach 取向下的自旋波色散。随后，通过用一般自旋波理论对两条色散分支进行同时拟合，在确定交换参数、饱和磁化强度和磁厚度的同时无需任何关于磁性“死层”厚度的先验知识。本工作中，我们展示了该技术在工业界常用于磁随机存取存储器的超薄金属薄膜上的优势。
引用
@article{arxiv.2201.11270,
title = {Simultaneous measurement of the exchange parameter and saturation magnetization using propagating spin waves},
author = {Grant A. Riley and Justin M. Shaw and Thomas J. Silva and Hans T. Nembach},
journal= {arXiv preprint arXiv:2201.11270},
year = {2022}
}