手征微扰论次次领头阶下的SIMP模型
高能物理 - 唯象学
2016-03-14 v2 高能物理 - 格点
高能物理 - 理论
摘要
我们研究了一类最近提出的复合暗物质模型的现象学可行性，其中遗迹密度由暗 sector 中的 3 到 2 粒子数改变过程决定。此处强相互作用场论中的 π 介子构成暗物质粒子。通过执行一致的次领头阶和次次领头阶手征微扰研究，我们证明领头阶分析不能用于得出关于模型可行性的结论。我们进一步表明，高阶修正大幅增加了与现象学约束的张力，挑战了强相互作用大质量粒子（SIMP）范式最简单实现的可行性。
引用
@article{arxiv.1507.01590,
title = {SIMP model at NNLO in chiral perturbation theory},
author = {Martin Hansen and Kasper Langaeble and Francesco Sannino},
journal= {arXiv preprint arXiv:1507.01590},
year = {2016}
}
备注
RevTeX, two-columns, 7 pages, 6 figures (updated to match published version)