铜氧化物 RIXS 中强关联效应的特征
强关联电子
2016-08-17 v3 超导电性
摘要
近来，利用共振非弹性 X 射线散射（RIXS）测量了掺杂铜氧化物中的自旋激发。在电子掺杂体系中 paramagnon 色散表现出大的硬化效应，而在空穴掺杂体系中似乎与掺杂无关，其能量尺度与反铁磁磁子相当。这一反常硬化效应曾部分地利用含三格点项的强耦合 t-J 模型得到解释（Nature communications 5, 3314 (2014)）。然而我们表明，即使不包含这一额外项，硬化效应也是强耦合物理的一个特征。通过考虑 t-t'-t"-J 模型并采用 Slave-Boson (SB) 平均场理论，我们借助自旋-自旋磁化率得到了与实验定性相符的自旋激发。这些反常主要源于依赖于掺杂的带宽。我们进一步讨论了 RIXS 测量中类粒子-空穴与类 paramagnon 激发之间的相互作用。
引用
@article{arxiv.1604.01858,
title = {Signatures of strong correlation effects in RIXS on Cuprates},
author = {Wan-Ju Li and Cheng-Ju Lin and Ting-Kuo Lee},
journal= {arXiv preprint arXiv:1604.01858},
year = {2016}
}
备注
7 pages, 6 figures