通过磁力显微镜揭示高阶天空子拓扑纹理的特征
介观与纳米尺度物理
2025-01-09 v1
摘要
高阶天空子和反天空子是具有除 之外的整数拓扑电荷的拓扑受保护的自旋纹理，由称为垂直布洛赫线的规则布洛赫墙中的拓扑点缺陷核生成。迄今为止，这些仅通过洛伦兹透射电子显微镜(Lorentz transmission electron microscopy)观察到。本文我们展示，Co/Ni 多层膜中可在室温下可视化的高阶自旋纹理，可通过高分辨率磁力显微镜(Magnetic force microscopy, MFM)实现。实验结果得到微磁动力学模拟的支持，确认不同自旋对象在 MFM 中产生 distinct 对比，与我们的观察结果完全一致。
引用
@article{arxiv.2501.04499,
title = {Signatures of higher order skyrmionic textures revealed by magnetic force microscopy},
author = {Sabri Koraltan and Joe Sunny and Tamer Karaman and Reshma Peremadathil-Pradeep and Emily Darwin and Felix Büttner and Dieter Suess and Hans Josef Hug and Manfred Albrecht},
journal= {arXiv preprint arXiv:2501.04499},
year = {2025}
}
备注
7 pages, 5 figures