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基于 Eu:Y$_2$SiO$_5$光谱烧孔的光学频率参考频移

原子物理 2015-06-11 v2 光学

作者: Michael J. Thorpe , David R. Leibrandt , Till Rosenband

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摘要

测量了 Eu:Y $_2$ SiO $_5$ 光谱孔的若干特性，以评估宽带孔图案作为激光频率参考的适用性。我们测量了由磁场、邻近光谱孔的边带特征以及变化的光学探测功率引起的频率偏移。还对一个温度不敏感点进行了精确校准，在该点处，由晶体氦气环境压力引起的频移在一阶上抵消了温度引起的频移。

关键词

光谱烧孔 Eu:Y2SiO5 光学频率参考频率偏移磁场温度不敏感点压力致频移

引用

@article{arxiv.1210.4458,
  title  = {Shifts of optical frequency references based on spectral-hole burning in Eu:Y2SiO5},
  author = {Michael J. Thorpe and David R. Leibrandt and Till Rosenband},
  journal= {arXiv preprint arXiv:1210.4458},
  year   = {2015}
}

备注

12 pages, 6 figures