通用且容错量子门集的自测试
量子物理
2007-05-23 v2 其他计算机科学
摘要
我们考虑量子门自测试器的设计。门 的自测试器是一个经典过程,给定任意门 ,以高概率判定每个 是否接近 。该判定必须仅依赖于在计算基上测量迭代这些门对经典态的作用效果。结果表明,我们只能针对门族而非单个门设计过程。为达成目标,我们借用了程序测试理论中的一些优雅思想:用特定性质刻画门族,发展其鲁棒性理论,并表明它们可导出自测试器。特别地,我们证明由 Hadamard 门、c-NOT 门和角为 的相位旋转门组成的通用且容错门集是可自测试的。
引用
@article{arxiv.quant-ph/9904108,
title = {Self-Testing of Universal and Fault-Tolerant Sets of Quantum Gates},
author = {Wim van Dam and Frederic Magniez and Michele Mosca and Miklos Santha},
journal= {arXiv preprint arXiv:quant-ph/9904108},
year = {2007}
}
备注
LaTeX2e, 14 pages, no figures, usepackage{a4wide,amssymb,amsmath}; major changes (Feb 2000), results expanded to 2-qubit gates. To appear in Proceedings of the 32nd Annual ACM Symposium on Theory of Computing