扫描超快电子显微镜：一种以高空间和时间分辨率探测光生载流子动力学的新技术
材料科学
2017-08-07 v1
摘要
光生载流子的动力学，特别是它们的输运以及与缺陷和界面的相互作用，在决定各种太阳能和光电器件的性能方面起着至关重要的作用。要透彻理解这些过程，需要同时以极高的分辨率在空间和时间上追踪光生载流子的运动，这对先前发展的技术（大多基于超快光学光谱）构成了重大挑战。扫描超快电子显微镜（SUEM）是最近发展起来的一种光子泵浦-电子探测技术，它结合了扫描电子显微镜（SEM）的空间分辨率和飞秒超快激光的时间分辨率。尽管最近有许多关于超快电子显微镜的出色综述，但我们特将此文专门献给SUEM，从用户角度回顾SUEM在二次电子探测模式下的工作原理和衬度机制，并讨论SUEM在直接成像各种材料中光生载流子动力学方面的应用。此外，我们提出了未来的理论和实验方向，以更好地理解和充分利用SUEM测量来获取关于光生载流子动力学的详细信息。最后，我们展望了将SUEM扩展为一个超越光生载流子动力学、用于探测光物理过程的通用平台的潜力。
引用
@article{arxiv.1708.01316,
title = {Scanning Ultrafast Electron Microscopy: A Novel Technique to Probe Photocarrier Dynamics with High Spatial and Temporal Resolutions},
author = {Bolin Liao and Ebrahim Najafi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1708.01316},
year = {2017}
}
备注
23 pages, 6 figures