重新审视 Micro-X 对 3.5 keV 谱线的预期信号
天体物理仪器与方法
2019-08-28 v2 宇宙学与河外天体物理
高能天体物理现象
摘要
未来用于解决未证认 3.5 keV 发射线起源的仪器之一是 Micro-X 探空火箭望远镜。根据 2015 年的估计，Micro-X 在其计划中的 300 秒观测期间，平均能够探测到约 18.2 个来自 3.5 keV 谱线的光子。然而，这一估计是基于 2015 年可用的最内层银河系中心（GC）区域 3.5 keV 谱线信号的外推。利用新近报道的五个偏离中心区域的 3.5 keV 谱线发射，我们发现类似的 Micro-X 有效载荷将导致平均 3.4-4.3 个计数，具体取决于暗物质分布。因此，我们表明，使用原始的 Micro-X 有效载荷，单次 Micro-X 发射不太可能探测到 3.5 keV 谱线。将其视场从 20° 增加到 33°，并将其指向从 GC 移开（以避开天空中最亮的 X 射线点源 Sco X-1），将使 3.5 keV 谱线的预期计数增加到 7.5-7.9，这对应于单次 Micro-X 观测中预期的边缘（~2σ）探测。
引用
@article{arxiv.1908.08276,
title = {Revisiting the expected Micro-X signal from the 3.5 keV line},
author = {Denys Savchenko and Dmytro Iakubovskyi},
journal= {arXiv preprint arXiv:1908.08276},
year = {2019}
}