确定 X 射线成像观测灵敏度与 X 射线计数率的新方法
天体物理学
2009-11-13 v1
摘要
我们提出了一种确定 X 射线成像观测灵敏度的新方法，该方法正确考虑了影响探测给定 X 射线流量源概率的观测偏差，而无需进行大量耗时的模拟。我们利用这项新技术，通过结合深场铅笔束和浅场大视场的钱德拉（Chandra）观测，估算了不同能带（0.5-2、0.5-10、2-10 和 5-10 keV）中的 X 射线源计数。该样本在 11.8 deg^2 的面积上共有 6295 个独立源，是迄今为止用于确定 X 射线计数率的最大样本。我们首次确定了双幂律源计数分布下 5-10 keV 能带的断点流量。我们还发现，在流量低于约 6e-17 erg/s/cm^2 时，0.5-2 keV 计数出现上翘。我们表明，这可以通过在微弱流量下占主导地位的普通恒星形成星系的出现来解释。我们还估算了在不同能带中解析为点源的弥散 X 射线背景的比例。我们认为，单一类型的康普顿厚活动星系核（AGN）无法解释 2-10 keV 能量范围内整个未解析的 X 射线背景。
引用
@article{arxiv.0805.4417,
title = {A new method for determining the sensitivity of X-ray imaging observations and the X-ray number counts},
author = {A. Georgakakis and K. Nandra and E. S. Laird and J. Aird and M. Trichas},
journal= {arXiv preprint arXiv:0805.4417},
year = {2009}
}
备注
Accepted for publication in MNRAS. Data products available at http://astro.imperial.ac.uk/research/xray/