用于纳秒分辨率显微成像的谐振电光成像
光学
2021-09-23 v3 应用物理
仪器与探测器
摘要
我们展示了一种电光宽场方法,以实现高通量和单分子灵敏度的荧光寿命显微(FLIM)。谐振驱动的Pockels电池用于在39 MHz高效选通图像,使荧光寿命可在标准相机传感器上捕获。宽场下单分子的寿命成像得以在小于100毫秒的曝光时间内实现。该能力允许将宽场FLIM与单分子超分辨定位显微结合。快速单分子动力学如FRET和分子结合事件可从宽场图像中捕获,无需先验空间知识。实现了1.9倍光子散粒噪声极限的寿命灵敏度,并通过以毫秒曝光和每帧 光子获取宽场FLIM图像展示了高吞吐量。谐振电光FLIM允许在任何宽场显微方法中实现寿命对比。
引用
@article{arxiv.2104.11313,
title = {Resonant Electro-optic Imaging for Microscopy at Nanosecond Resolution},
author = {Adam J. Bowman and Mark A. Kasevich},
journal= {arXiv preprint arXiv:2104.11313},
year = {2021}
}
备注
23 pages, 13 figures