欠阻尼存储器在循环擦除中的可靠性与操作代价
统计力学
2024-01-09 v2
摘要
我们在实验与理论上研究了一比特欠阻尼存储器中快速重复擦除的可靠性。该比特由微机械振荡器的位置编码，其运动受限在双势阱势中。为控制快速擦除的能量代价，我们使用高品质因数 的谐振器：即使在高速下，擦除功 也接近朗道尔界。缺点是由于与环境的弱耦合，系统温度 上升。在不让存储器在操作间热化的重复擦除会导致持续升温，可能致使热噪声越过势阱间势垒。在此情况下，复位操作可能无法达到目标逻辑态。可靠性由连续 次操作后的成功率 表征。、 和 作为擦除速度的函数在实验中得到研究。高于某一速度阈值时， 骤升而 崩塌：过快擦除的可靠性低。这些实验结果由两种互补模型充分解释。我们证明 是在任意速度下控制能量代价并保持高可靠性标准的优化值。
引用
@article{arxiv.2306.15573,
title = {Reliability and operation cost of underdamped memories during cyclic erasures},
author = {Salambô Dago and Sergio Ciliberto and Ludovic Bellon},
journal= {arXiv preprint arXiv:2306.15573},
year = {2024}
}