量子寿命展宽导致的擦除额外成本

信息擦除的能量成本由Landauer从根本上给出了下界，依据其环境温度：$W\geq k_\mathrm{B} T \ln 2$。然而，在实际电子器件中，信息承载系统通常与两个或多个电极相连，这些电极具有不同的温度和化学势。对于此类非平衡情况下的擦除成本尚不清楚。用于测试信息处理热力学极限的有前景技术是量子点，在该技术中，一个比特被编码在单个电子的存在或缺失中。我们在此发展了该类设备的热力学描述，并发现除了电极温度外，量子点的势差以及其能级寿命展宽也贡献于擦除的最低工作成本。在实际情境下，这些贡献可能显著超过仅由温度引起的成本。