基于全光学逆康普顿散射源的感兴趣区域微焦点 CT
应用物理
2020-03-31 v1 加速器物理
摘要
微焦点计算机断层扫描(CT)能够重建物体内部的超精细结构,是许多领域中一种强大的无损检测工具。当前用于微焦点 CT 的 X 射线源通常受其相对较低的光子能量和低通量限制。基于激光尾波场加速器(LWFA)的全光学逆康普顿散射源(AOCS)可产生 keV–MeV 范围内、具有微米级源尺寸的强准单能 X/γ 射线脉冲,由于 LWFA 的快速进展,近年来其在微焦点 CT 中的潜在应用已变得极具吸引力。在此,我们报道了利用 AOCS(~70 keV)对具有复杂内部结构的测试物体进行成像与重建的高保真微焦点 CT 的首次实验演示。采用感兴趣区域(ROI) CT 方法来利用 AOCS 相对较小的视场(FOV)以获得高分辨率重建。这一基于 AOCS 的 ROI 微焦点 CT 演示是其应用于超精细无损检测领域的关键一步。
引用
@article{arxiv.2003.12837,
title = {Region-of-interest micro-focus CT based on an all-optical inverse Compton scattering source},
author = {Yue Ma and Jianfei Hua and Dexiang Liu and Yunxiao He and Tianliang Zhang and Jiucheng Chen and Fan Yang and Xiaonan Ning and Zhongshan Yang and Jie Zhang and Chih-Hao Pai and Yuqiu Gu and Wei Lu},
journal= {arXiv preprint arXiv:2003.12837},
year = {2020}
}