基于频域连续波 THz 光谱的 mm 波吸收体反射率测量
天体物理仪器与方法
2024-07-09 v1 光学
摘要
由于高动态范围和使用便捷性，连续波 terahertz 光谱技术日益受到用于天体微波背景(CMB)实验中组件光学表征的青睐。本文描述了一种光学测试平台，能够同时测量 various 辐射吸收介质材料的传输和反射特性，这些材料是减少意外光负载的关键组件。为了演示该测试平台的性能，我们对五种常用于此类应用的吸收体进行了反射响应测量：TKRAM、掺碳和掺铁的 Stycast、HR10、AN72 以及一款自制 3D 打印吸收体，测量频率范围为 100至 500 GHz，分别针对 S 极化和 P 极化，入射角从 15度到 45度变动。我们呈现了这些吸收体在平面反射和散射反射响应方面的结果。
引用
@article{arxiv.2407.05512,
title = {Reflectance measurements of mm-wave absorbers using frequency-domain continuous wave THz spectroscopy},
author = {Gaganpreet Singh and Rustam Balafendiev and Zeshen Bao and Thomas J. L. J. Gascard and Jon E. Gudmundsson and Gagandeep Kaur and Vid Primožič},
journal= {arXiv preprint arXiv:2407.05512},
year = {2024}
}
备注
to be published in the proceedings of SPIE Astronomical Telescopes + Instrumentation 2024