通过层间凹凸和界面粗糙度校正来细化纳米多层结构中的界面应力测量
材料科学
2025-01-31 v1 计算物理
摘要
我们提出了新的模型，将层间凹凸和界面粗糙度纳入标准的纳米多层结构(NML)界面应力测量方法中。应用于Cu/W NML，这些模型显示，忽略此类特征可使测量的界面应力提高最高可达0.4 J/m^2。然而，凹凸和粗糙度本身无法解释所报告的极端应力，表明原子尺度现象（例如界面处的混合和亚稳相形成）占主导地位。这一发现突显了在可靠量化应力方面，在层数与厚度-粗糙度比之间进行平衡的重要性，为设计和表征具有 improved 准确性的纳米复合材料涂层提供了实用路径。
引用
@article{arxiv.2501.18247,
title = {Refining interface stress measurement in nanomultilayers through layer corrugation and interface roughness corrections},
author = {Yang Hu and Aleksandr Druzhinin and Claudia Cancellieri and Vladyslav Turlo},
journal= {arXiv preprint arXiv:2501.18247},
year = {2025}
}