降低集总元件 KID 对两能级系统效应的敏感性
天体物理仪器与方法
2020-08-07 v2
摘要
通过天线耦合传输线进行光耦合的集总元件动力学电感探测器（LEKID）阵列是未来宇宙微波背景（CMB）实验的有力候选者。然而，已知用于微带架构的电介质材料会降低超导谐振器的性能。在本文中，我们研究了微带耦合到 LEKID 的可行性，重点是对在 LEKID 上沉积非晶氮化硅的影响进行系统研究。LEKID 的离散且空间分离的感抗和容抗区域使我们能够改变电介质覆盖程度，并确定微带耦合架构的局限性。我们表明，通过小心地从电容器高电场区域移除电介质，部分覆盖的集总元件谐振器的介电损耗角正切退化最小。我们给出了对谐振频率和噪声功率谱密度的影响，并利用暗响应度提供了所得探测器灵敏度的估计。
引用
@article{arxiv.1801.07920,
title = {Reducing the susceptibility of lumped-element KIDs to two-level system effects},
author = {A. L. Hornsby and P. S. Barry and S. M. Doyle and Q. Y. Tang and E. Shirokoff},
journal= {arXiv preprint arXiv:1801.07920},
year = {2020}
}
备注
Presented at the 18th International Workshop on Low Temperature Detectors. Published in the Journal of Low Temperature Physics