利用复用探测器阵列实现死时间缩减与更高计数率的光子计数探测

我们提出了一种光子计数探测系统的方案，该系统通过抑制探测器死时间的影响，可在比原本可能的更高的入射光子率下运行。该方法使用 N 个探测器的阵列和一个 1×N 光开关及控制电路，将输入光导向处于工作状态的探测器。我们的计算和模型凸显了该技术的优势。特别地，使用此方案，一组 N 个探测器所提供的运行速率提升，可超过将单个探测器的死时间缩减 1/N 所能获得的提升，即便制造出具有如此大死时间改善的单个探测器是可行的。我们对连续和脉冲光源下的系统进行了建模，这两者对于量子计量和量子密钥分发应用都很重要。