量子相关显微术的优势量化：基于单光子探测器阵列

量子相关显微术是一种提高光学分辨率的新兴技术。通过利用单光子荧光体的量子统计特性，可获取关于发射体（包括数量和位置）的更多信息，这在经典显微术中是无法获得的。虽然已知通过增加探测器数量以及使用量子相关可提高分辨率，但这两种方法之间的定量关系尚不明了。本文我们探讨了使用单光子探测器阵列的宽场量子相关显微术。我们明确比较了以计数模式使用 N 个探测器与使用 N/2 个探测器来测量量子相关的情况，即使用相同的 N 个探测器构建 N/2 个汉姆布鲁斯-布朗-惠特斯系统，用于随机生成的两个发射体系统。我们发现，当考虑发射位置和采样光子数时，N/2 个汉姆布鲁斯-布朗-惠特斯探测器相对于 N 个光子计数探测器可提供更好的定位精度。