利用纳米薄膜重构声子平均自由程对热导率的贡献
介观与纳米尺度物理
2014-08-29 v1
摘要
了解载热声子的平均自由程分布是理解声子介导热传输的关键。我们证明，对跨越较厚厚度范围的薄膜进行热导率测量，可用于表征体材料热导率在声子平均自由程上的分布。采用非接触瞬态热光栅技术测量了厚度为15至1500 nm的悬浮硅薄膜的热导率。在此厚度范围内，热导率从体值的74%下降到13%，这归因于扩散声子边界散射。由于薄膜厚度与声子平均自由程抑制之间存在明确关系，结合测量的范围和精度，我们可以重建体热导率累积量随声子平均自由程的变化，并与理论模型进行比较。
引用
@article{arxiv.1408.6747,
title = {Reconstructing phonon mean free path contributions to thermal conductivity using nanoscale membranes},
author = {John Cuffe and Jeffery K. Eliason and Alexei A. Maznev and Kimberlee C. Collins and Jeremy A. Johnson and Andrey Shchepetov and Mika Prunnila and Jouni Ahopelto and Clivia M. Sotomayor Torres and Gang Chen and Keith A. Nelson},
journal= {arXiv preprint arXiv:1408.6747},
year = {2014}
}