利用 tomviz 进行电子断层扫描中的实时三维分析
材料科学
2022-08-04 v1
摘要
在生物与材料科学中，对高通量电子断层扫描的需求正迅速增长。然而，这种三维成像技术在计算上受限于对齐与重建，耗时从数小时到数天不等。我们展示了具有动态三维断层可视化的实时断层扫描，以便在电子显微镜采集数据时可立即对样品结构进行快速解读。利用几何复杂的手性纳米颗粒，我们表明体积解读可在不到 10 分钟内开始，且高质量断层图像可在 30 分钟内获得。实时断层扫描已集成至 tomviz 中，这是一个开源且跨平台的三维分析工具，包含直观的图形用户界面（GUI），使任何科学家都能对生物与材料结构进行三维表征。
引用
@article{arxiv.2208.01850,
title = {Real-time 3D analysis during electron tomography using tomviz},
author = {Jonathan Schwartz and Chris Harris and Jacob Pietryga and Huihuo Zheng Prashant Kumar and Anastasia Visheratina and Nicholas Kotor and Brianna Major and Patrick Avery and Peter Ercius and Utmarsch Ayachit and Berk Geveci and David Muller and Alessandro Genova and Yi Jiang and Marcus Hanwell and Robert Hovden},
journal= {arXiv preprint arXiv:2208.01850},
year = {2022}
}