量子芝诺断层扫描
量子物理
2009-11-07 v2
摘要
我们表明,标准吸收断层扫描的“每吸收粒子”分辨率可以被一个简单的干涉装置所超越,前提是样品中不同级别的“灰度”不是均匀分布的。该技术依赖于量子芝诺效应,并已在数值模拟中得到测试。我们提出的方案可以在紫外光、中子或X射线的实验中实现。
引用
@article{arxiv.quant-ph/0104021,
title = {Quantum Zeno tomography},
author = {P. Facchi and Z. Hradil and G. Krenn and S. Pascazio and J. Rehacek},
journal= {arXiv preprint arXiv:quant-ph/0104021},
year = {2009}
}
备注
8 pages, 5 figures