作为光学器件表征工具的量子层析
量子物理
2009-11-07 v1
摘要
我们描述一种用于光学器件量子表征的新工具。实验装置涉及一个稳定参考态,其经历未知的量子变换,随后由平衡零差探测揭示。通过对零差数据进行层析分析,我们能够表征信号并估计相互作用的参数,例如光学元件的损耗或放大器的增益。我们给出相干信号的实验结果,应用于简单光学元件引入损耗的估计,并展示这些结果如何推广到更一般光学器件的表征。
引用
@article{arxiv.quant-ph/0110110,
title = {Quantum tomography as a tool for the characterization of optical devices},
author = {G. Mauro D'Ariano and Matteo G. A. Paris and Martina De Laurentis and Alberto Porzio and Salvatore Solimeno},
journal= {arXiv preprint arXiv:quant-ph/0110110},
year = {2009}
}
备注
Low quality pictures (too large for the archive). Full version at http://enterprise.unipv.it/~paris