光子量子层析中测量的最优重排序

量子层析是光子技术工具箱中的基本方法，常用于评估实验制备的光态以及表征变换此类态的器件。层析过程由许多不同的顺序执行的测量组成。我们通过最优排列各个组成测量，实现了层析速度的显著提升，这等价于求解一个旅行商问题实例。作为示例，我们给出了至多五量子比特光子系统的解，并得出结论：对于三量子比特及以上的系统，层析过程的总时长可减半。所报道的加速已在量子态层析以及至多六量子比特的完整量子过程表征中得到实验验证，且未借助任何复杂度约简或对所关注系统的简化。我们的方法具有通用性，也可减少光学器件及各种散射过程的输入输出表征时间。