基于量子气体的纳米线渗流网络中有源电流密度的直接成像

电学渗流的纳米线网络是下一代透明电极最有希望的候选者之一。对这些材料的科学兴趣源于其固有的电流分布异质性，导致渗流路径重路由和局部自热等现象，并可能造成不可逆损伤。在缺乏解析电流分布的实验技术以及基础的非线性渗流模型的情况下，人们只能依赖经验规则和安因素来设计这些材料。我们引入玻色-爱因斯坦显微镜以解决二维材料中活跃电流成像这一长期难题。我们报道了该技术的性能提升，从而得以观测电流路径的动态重分布。我们展示了该方法与现有热成像方法结合后，消除了在电学与热学性质间进行假设的需要。这将使单个结点的行为与热点形成的测试和建模成为可能。研究可逆与不可逆机制将有助于推进具有更高性能与可靠性的器件发展。