使用 X 射线微断层扫描量化中尺度神经解剖结构

用于解析大脑三维微结构的方法通常首先薄切片和染色大脑，然后用可见光光子或电子对每个单独截面成像。相比之下，X 射线可用于对厚样本成像，提供了一种无需切片即可快速生成大型三维脑图的方法。在此，我们展示了使用同步辐射 X 射线微断层扫描（$\mu$CT）从毫米尺度小鼠脑体积中产生中尺度$(1~\mu m^3)$分辨率的脑图。我们引入了一种基于$\mu$CT的脑图流程，该流程结合了样本制备、成像、将图像体积自动分割为细胞和血管以及所得脑结构的统计分析的方法。我们的结果表明，X 射线断层扫描有望快速量化大型脑体积，补充其他脑绘图和连接组学工作。