再电离时期测量中射频干扰引起的 excess power 量化
天体物理仪器与方法
2020-09-09 v2 宇宙学与河外天体物理
摘要
我们量化了射频干扰（RFI）对再电离时期（EoR）21厘米功率谱测量的影响。具体而言，我们研究了RFI源发射的频谱结构如何在高阶波数模中产生比平滑谱前景源更具问题的污染。使用一个相对乐观的EoR模型，我们发现即使是一个相对暗的RFI源，对于模 ，也能淹没 的EoR功率谱信号。如果最终功率谱积分中的总视RFI通量密度保持在1 mJy以下，在没有其他系统性污染物且误差容限高达10%的情况下，对于模 ，应当能探测到类似该乐观模型的EoR信号。更悲观的模型将更具限制性。这些结果强调了用于搜寻EoR的望远镜需要高度有效的RFI抑制策略。
引用
@article{arxiv.2004.07819,
title = {Quantifying Excess Power from Radio Frequency Interference in Epoch of Reionization Measurements},
author = {Michael J. Wilensky and Nichole Barry and Miguel F. Morales and Bryna J. Hazelton and Ruby Byrne},
journal= {arXiv preprint arXiv:2004.07819},
year = {2020}
}