二维界面定量：异质结构的质量，以及纳米气泡里是什么
介观与纳米尺度物理
2024-07-22 v1 材料科学
摘要
两个二维异质结构（HS）界面上捕获的材料导致层间耦合降低，进而导致光电性能下降和器件可变性。此外，纳米气泡可能在转移或退火后在界面上形成。关于纳米气泡内是什么材料（即捕获的材料）仍是一个未解之谜，这限制了这些纳米气泡系统的研究和应用。在本工作中，我们报告了两个关键性进展。首先，我们使用 RAW 格式光学成像对界面质量进行定量化，并区分理想界面和非理想界面。通过计算 HS-基板比值，并利用传递矩阵模型，能够检测捕获层的存在。第二个关键性进展是识别了纳米气泡内的捕获材料为水。据我们了解，这是首次显示光学成像 alone 就能定量化界面质量，并发现光学成像 alone 能自发识别纳米气泡内的捕获材料类型。我们还定义了一个质量指数参数来定量化 HS 的界面质量。界面的定量测量将帮助回答在 HS 制备过程中是否需要退火的问题，并将使我们能够创建具有小扭角的复杂 HS。对捕获材料的识别将为利用纳米气泡进行新型光学和工程应用铺平了道路。
引用
@article{arxiv.2404.16441,
title = {Quantification of 2D Interfaces: Quality of heterostructures, and what is inside a nanobubble},
author = {Mainak Mondal and Pawni Manchanda and Soumadeep Saha and Abhishek Jangid and Akshay Singh},
journal= {arXiv preprint arXiv:2404.16441},
year = {2024}
}