经修饰喷注可观测量在 NNLL+NLO 下的 QCD 重求和

我们使用直接 QCD 方法对采用修正质量丢弃标记器（Soft Drop $\beta=0$）修饰的可观测量进行次次领头对数（NNLL）重求和。我们聚焦于在任意数量软共线发射下可加的可观测量。对于此类可观测量，我们将 NNLL 项的结构安排为两个不同类别。第一类定义了简化的 inclusive 标记器，其 NNLL 共线结构直接与未修饰可观测量相关。第二类定义了聚类修正，当使用 Cambridge-Aachen（C/A）算法聚类喷注时其形式尤为简单。除经 mMDT 修饰的喷注质量的 QCD 重求和外，我们还首次给出了与 NLO 匹配的、一系列经 mMDT 修饰的喷注角函数的 NNLL 重求和预言。此外，我们在同一计算中首次同时包含了在 NLL 水平计算的有限 $z_{\mathrm{cut}}$ 效应，以及小 $z_{\mathrm{cut}}$ 的 NNLL 结果，这同时改进了迄今用于喷注质量现象学研究的两类计算。虽然为简洁起见我们聚焦于 $e^{+}e^{-}$ 碰撞，但我们发展的核心 NNLL 重求和是过程无关的，因此通过适当的 NLO 匹配，我们的结果也适用于强子对撞机现象学。