常规超导体薄膜中的赝能隙
超导电性
2010-12-15 v2 介观与纳米尺度物理
强关联电子
摘要
超导态的特征是电子态密度中的能隙在超导转变温度Tc处消失。人们发现,在高温超导体中,即使在高于Tc的温度下,态密度中仍然存在明显的下降;这一特征被称为赝能隙。在这里,我们表明赝能隙存在于常规超导体中:超薄氮化钛薄膜在高于Tc的宽温度范围内。我们的研究揭示,这种赝能隙态是由超导涨落诱导的,并且二维性和接近绝缘体转变有利于其出现。所观察到的现象的普遍性为区分涨落作为赝能隙态的起源与层状高温超导化合物中的其他贡献提供了有力工具。
引用
@article{arxiv.0906.1193,
title = {Pseudogap in a thin film of a conventional superconductor},
author = {B. Sacepe and C. Chapelier and T. I. Baturina and V. M. Vinokur and M. R. Baklanov and M. Sanquer},
journal= {arXiv preprint arXiv:0906.1193},
year = {2010}
}
备注
26 pages, 4 figures