暗物质晕的性质及其相关性：主成分分析的启示

我们利用主成分分析研究了暗物质晕结构参数之间的相关性。我们考虑了一组八个参数，其中六个常用于表征暗物质晕的性质：质量、浓度、自旋、形状、超密度以及主轴与角动量矢量之间的夹角 ($\Phi_L$)。另外两个参数 ($x_{off}$ 和 $\rho_{rms}$) 用于描述晕的“松弛”程度。我们发现，一方面可以用晕的质量和浓度，另一方面可以用晕的松弛程度来解释这些性质的大部分方差。尽管如此，通常需要三个主成分才能解释大部分方差。我们认为晕的质量并不像预期的那样占主导地位，这对那些假设质量决定其他晕（和星系）性质的晕占据模型和半解析模型构成了挑战。此外，我们发现夹角 $\Phi_L$ 与其他晕参数没有显著相关性，这可能给那些假设星系盘在晕中以特定方式取向的模型带来困难。最后，在固定质量下，我们发现晕的环境（由大尺度超密度量化）相对不重要。