量子门验证的原理验证实验演示
量子物理
2022-02-14 v2
摘要
要使用量子器件，首先需评估其中量子门的性能。由于量子门的维度随量子比特数指数增长，评估量子门性能是一项具挑战性的任务。近来，一种称为量子门验证（QGV）的方案被提出，其能以近最优效率验证量子门。在本文中，我们实现了一个原理验证光学实验来演示该QGV方案。我们表明，对于单量子比特量子门，使用QGV方法仅需约300个样本即可在99%置信水平下确认量子门保真度至少达97%，而使用标准量子过程层析方法至少需要约3000个样本才能达到相同结果。本文所验证的QGV方法有望被广泛应用于各类量子信息应用中的量子器件评估。
引用
@article{arxiv.2107.13466,
title = {Proof-of-principle experimental demonstration of quantum gate verification},
author = {Maolin Luo and Xiaoqian Zhang and Xiaoqi Zhou},
journal= {arXiv preprint arXiv:2107.13466},
year = {2022}
}