7 量子比特量子处理器上 Clifford 门平均保真度的实验估计
量子物理
2015-04-13 v1
摘要
实验中的量子门 inherently 易受误差影响，需在纠错前对其进行表征。通过量子过程层析成像进行完整表征既不切实际往往也无必要。对于大多数实际目的，估计如平均保真度等更一般的量已足够。在此，我们利用酉 2-design 和扭转协议（twirling protocol）高效估计 Clifford 门的平均保真度，以认证核磁共振量子处理器中的一个 7 量子比特纠缠门。与完整过程层析成像所需的超过 次实验相比，我们仅进行了 1656 次实验即达到了 99% 的统计置信水平。该 Clifford 门在实验中的平均保真度为 55.1%，若去除由退相干引起的非保真度，则该值上升至 87.5%。整个 Clifford 门认证协议高效且可扩展，只需稍作修改即可推广至任何通用量子信息处理器。
引用
@article{arxiv.1411.7993,
title = {Experimental Estimation of Average Fidelity of a Clifford Gate on a 7-qubit Quantum Processor},
author = {Dawei Lu and Hang Li and Denis-Alexandre Trottier and Jun Li and Aharon Brodutch and Anthony P. Krismanich and Ahmad Ghavami and Gary I. Dmitrienko and Guilu Long and Jonathan Baugh and Raymond Laflamme},
journal= {arXiv preprint arXiv:1411.7993},
year = {2015}
}
备注
5 pages, 2 figures