用线发射测绘者探测最长暗物质寿命

在未来十年，拟议的线发射测绘者（LEM）望远镜概念有望革新银河系与河外 X 射线灵敏度。LEM 搭载的仪器具备前所未有的 eV 级能量分辨率以及 0.5 keV 处 1600 cm$^2$ 的有效面积。这些特性非常适于探索预测有 X 射线信号的衰变暗物质候选者，包括类轴子粒子与惰性中微子。我们给出 LEM 对暗物质衰变灵敏度的首个预测，发现其对 keV 范围内寿命超过 $\sim 10^{32}$ s 的灵敏度，比当前限制高出数个数量级。值得注意的是，我们的结果表明 LEM 将是首个能在任意质量范围、任意衰变通道探测如此长暗物质寿命的仪器。