利用自旋分辨横向磁聚焦探测费米面宇称
介观与纳米尺度物理
2025-01-07 v3
摘要
费米面测量是确定固体电学和磁学性质的基本技术。在二维系统中，费米面的面积和直径通常分别利用舒布尼科夫-德哈斯振荡和公度振荡来测量。然而，这些技术无法探测费米面宇称的变化（即当 +k -k 时）。在此，我们表明横向磁聚焦可用于探测此类变化，因为聚焦仅测量费米面中定义明确的一段，而不对 +k 和 -k 取平均。此外，我们的结果表明，相对于其他二维技术，聚焦对费米面变化的灵敏度高一个数量级，并可用于研究其他二维系统中类似的费米面变化。
引用
@article{arxiv.2310.04005,
title = {Probing Fermi surface parity with spin resolved transverse magnetic focussing},
author = {M. J. Rendell and S. D. Liles and S. Bladwell and A. Srinivasan and O. Klochan and I. Farrer and D. A. Ritchie and O. P. Sushkov and A. R. Hamilton},
journal= {arXiv preprint arXiv:2310.04005},
year = {2025}
}