探测量子处理器中的上下文相关错误

在易错量子信息处理器中，门通常用一组单比特与双比特过程矩阵（量子错误的标准模型）来建模。然而，真实处理器上量子线路的结果常依赖于额外的外部“上下文”变量。此类上下文可包括旁观比特的状态、数据收集时间或控制电子学的温度。本文中我们展示了一套简单、广泛适用且统计严谨的方法，用于探测量子线路实验中的上下文依赖性。它们可用于任何由在不同上下文中重复同一组量子线路所获得的两个或多个测量结果“池”组成的数据。这些工具可无缝集成到标准量子器件表征技术中，如随机基准测试或层析。我们通过探测并量化公开可访问的 16 比特 ibmqx3 上的串扰与漂移，实验演示了这些方法。