通过前后不对称性探测 $H\to \gamma Z$ 中的 CP 破坏

我们提出，当包含来自 $gg\to\gamma Z\to\gamma \ell^-\ell^+$ 过程的干涉时，$gg\to H\to\gamma Z\to\gamma \ell^-\ell^+$ 过程中带电轻子的前后不对称性 $(A_{FB})$ 可用于探测破坏 CP 的 $H\gamma Z$ 耦合。由于 $H\gamma Z$ 耦合中的 CP 破坏，干涉效应导致非零的 $A_{FB}$，这也对强相位差敏感。共振和非共振强相位共同使得 $A_{FB}(\hat{s})$ 在 Higgs 质量 $M_H$ 附近改变符号。对于唯象学研究，我们建议对 $M_H$ 以下的单侧质量区域进行积分，以放大 $A_{FB}$ 的强度。