通过前后不对称性探测 $H\to \gamma Z$ 中的CP破坏

我们提出，在包含来自 $gg\to\gamma Z\to\gamma \ell^-\ell^+$ 过程的干涉时，$gg\to H\to\gamma Z\to\gamma \ell^-\ell^+$ 过程中带电轻子的前后不对称性 $(A_{FB})$ 可用于探测CP破坏的 $H\gamma Z$ 耦合。由于 $H\gamma Z$ 耦合中的CP破坏，干涉效应导致非零的 $A_{FB}$，其也对强相位差敏感。共振与非共振强相位共同使 $A_{FB}(\hat{s})$ 在希格斯质量 $M_H$ 附近变号。为现象学研究，我们建议对 $M_H$ 下方单侧质量区域积分以放大 $A_{FB}$ 强度。