在Tevatron上利用Z玻色子对电弱参数的精确测量

我们报告了从Tevatron上$Z$玻色子质量区域内的双轻子事件的前后不对称性提取$\sin^2\theta^{\rm lept}_{\rm eff}(M_Z)$以及间接测量W玻色子质量的结果。CDF探测器收集的$e^+e^-$和$\mu^+\mu^-$事件数据样本对应于完整的9.4 fb$^{-1}$ II期运行样本，并给出有效电弱混合角$\sin^2\theta^{\rm lept}_{\rm eff}(M_Z) = 0.23222 \pm 0.00046$。D0合作组使用完整的9.4 fb$^{-1}$ $e^+e-$样本报告的相应结果为$\sin^2\theta^{\rm lept}_{\rm eff}(M_Z) = 0.23146 \pm 0.00047$。CDF合作组还提取了在壳电弱混合角$\sin^2 \theta_W = 0.22401 \pm 0.00044$，对应于W玻色子质量的间接测量$M_W ({\rm indirect}) = 80.327 \pm 0.023 \;{\rm GeV}$。所述不确定性包括统计和系统两部分贡献。