利用不完美的全耗尽 CCD 进行精密天文学测量——简介与建议术语表

本文总结了一场研讨会的 introductory presentation，该研讨会探讨了利用深耗尽（厚）CCD 进行精密天文测量所面临的挑战。虽然厚 CCD 在近红外波长下具有提高量子效率和减少大气发射线条纹干扰等明显优势，但这些器件也表现出一些不良特征，对精确测定天体的位置、流量和形状以及天文光谱中的特征构成了挑战。在这些器件中观察到的许多效应源于探测器内部的横向电场，其产生的电荷输运异常此前被误解释为量子效率的变化。执行简单的平场校正会在图像处理流程中引入系统误差。一项测量挑战在于设计一种校准方法，能够区分真实的量子效率变化与电荷输运效应。鉴于提高天文测量精度和准确度的科学益处，我们需要识别、表征并克服这些各种探测器伪影。回顾过去，许多最初在厚 CCD 中发现的探测器特征也影响着使用更传统 CCD 探测器进行的测量，尽管程度通常较低。本文提供了我们认为导致观测到的器件特性的物理效应的定性概述，并为未来的工作提供了一些视角。最后，我借此机会呼吁在描述这些各种探测器特征时建立清晰一致的词汇，并基于研讨会的讨论提出了一些标准术语表的建议。