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带电Wino衰变率的精确估计

高能物理 - 唯象学 2023-01-25 v2 高能物理 - 实验

摘要

Wino是一种SU(2)L\mathrm{SU}(2)_{L}三重态Majorana费米子,也是一种有充分动机的暗物质候选者。由于SU(2)L\mathrm{SU}(2)_{L}对称性,带电Wino与中性Wino之间的质量差很小。这一小质量差使带电Wino成为亚稳态,从而在对撞机实验中产生消失带电径迹信号。LHC上对Wino暗物质的约束强烈依赖于Wino寿命。我们计算了带电Wino衰变的次领头阶(NLO)修正,并给出了最精确的衰变率估计。我们发现NLO衰变率由质量差决定,在重Wino极限下几乎不依赖于Wino质量本身。结果表明,NLO修正对寿命的影响较小,仅使其增加2-4%。

关键词

引用

@article{arxiv.2210.16035,
  title  = {Precise Estimate of Charged Wino Decay Rate},
  author = {Masahiro Ibe and Masataka Mishima and Yuhei Nakayama and Satoshi Shirai},
  journal= {arXiv preprint arXiv:2210.16035},
  year   = {2023}
}

备注

52 pages, 18 figures; published version