带电 Higgsino/Wino 衰变率的精确估计
高能物理 - 唯象学
2024-03-29 v2 高能物理 - 实验
摘要
超对称标准模型中的 Higgsino 和 Wino 由于其弱相互作用性质，是暗物质的主要候选者。当其他超粒子较重时，它们的带电分量（带电微子）和中性分量（中性微子）之间的质量差变得简并，导致长寿命的带电微子。对于 Wino，在很宽的参数空间范围内，质量差约为 160 MeV。因此，带电微子衰变为最轻的中性微子，并释放一个带电介子。然而，对于 Higgsino，从 O(0.1) GeV 到 O(1) GeV 的质量差是可能的，导致多种衰变通道。在本文中，我们将之前对 Wino 衰变的分析扩展到具有更大质量差的带电微子。我们强调通过轻子和强子模式来表征其衰变特征。利用最新的实验数据，我们对包含这些强子模式的衰变率计算进行了全面研究，以确定对预测的带电微子寿命的影响。此外，我们对轻子衰变模式进行了次领头阶（NLO）计算。我们的 NLO 结果可应用于更一般的费米子电弱多重态，例如五重态暗物质。
引用
@article{arxiv.2312.08087,
title = {Precise Estimate of Charged Higgsino/Wino Decay Rate},
author = {Masahiro Ibe and Yuhei Nakayama and Satoshi Shirai},
journal= {arXiv preprint arXiv:2312.08087},
year = {2024}
}
备注
69 pages, 20 figures, Data of decay rates is available at https://member.ipmu.jp/satoshi.shirai/Chargino_Decay/